儀器網

歡迎您: 請登錄 免費注冊 儀器雙拼網址:yiqi.com
官方微信
儀器網

掃描電鏡/掃描電子顯微鏡

賽默飛化學分析儀器
儀器網/ 產品中心/ 光學儀器/ 電子光學儀器/ 掃描電鏡/掃描電子顯微鏡
掃描電鏡/掃描電子顯微鏡

掃描電鏡/掃描電子顯微鏡

掃描電鏡/掃描電子顯微鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態,即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品的相互作用產生各種效應,其中主要是樣品的二次電子發射。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置,這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區成分分析。
掃描電鏡/掃描電子顯微鏡產品篩選
產品品牌
更多品牌
產品產地
不限 中國大陸 大洋洲歐洲亞洲美洲
廠商性質
不限 生產商授權代理商一般經銷商
銷售地區
江蘇山東上海北京安徽浙江福建廣東廣西海南湖北河南江西天津河北山西寧夏西藏青海陜西四川云南貴州甘肅遼寧吉林黑龍江內蒙古香港臺灣澳門湖南重慶新疆
不限
展開更多選項
掃描電鏡/掃描電子顯微鏡產品列表
排列樣式:
  • >
日立高新AeroSurf1500 臺式掃描電鏡

日立高新AeroSurf1500 臺式掃描電鏡

  • 品牌: 日立
  • 型號: AeroSurf1500
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    產品簡介日立高新AeroSurf1500 臺式掃描電鏡2016年,日立高新公司推出第一臺大氣壓下掃描電子顯微鏡AeroSurf1500,其獨特的設計可在大氣壓下得到清晰的掃描電子圖像。產品特點1、可在大氣壓(105Pa)下得到SEM圖像;2、臺式掃描電鏡設計;3、低真空下成分分析;4、優質的圖像處理控制;應用領域1、食品檢測;2、生物科技;3、刑偵醫學;4、醫藥檢測;5、環境監測。

日立高分辨冷場發射掃描電鏡 SU9000

日立高分辨冷場發射掃描電鏡 SU9000

  • 品牌: 日立
  • 型號: SU9000
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    SU9000是世界上最高二次電子分辨率([email protected])和STEM分辨率([email protected])的掃描電鏡。它采取了獨特的真空系統和電子光學系統,不僅分辨率性能優異,而且作為冷場發射掃描電鏡甚至不需要傳統意義上的Flashing操作,可以快速穩定的進行超高分辨成像。?主要特點:1.  新型電子光學系統設計達到掃描電鏡世界最高分辨率:二次電子0.4nm(30KV),STEM 0.34nm(30KV)。2.  用改良的高真空性能和無與倫比的電子束穩定性來實現高效率截面觀察。3.  采用全新設計的Super E x B能量過濾技術,高效,靈活地收集SE / BSE/ STEM信號。 應用領域:1.      半導體器件2.      高分子材料3.      納米材料4.      生命科學

【Hitachi】日立新型熱場發射掃描電鏡SU5000

【Hitachi】日立新型熱場發射掃描電鏡SU5000

  • 品牌: 日立
  • 型號: SU5000
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    產品介紹:  日立全新一代熱場發射掃描電鏡SU5000繼承了日立半導體行業掃描電鏡CD-SEM高穩定性和易操作的特點,不僅具有強大的觀察分析能力,同時具有全新的操作體驗。SU5000既滿足了專業電鏡操作者對高分辨觀察和分析的需求,也滿足了電鏡初學者對高質量圖片的需求,是一臺操作簡便且功能強大的掃描電鏡。主要特點:? 高穩定性熱場發射電子槍? 全新的EM Wizard軟件,無需設置參數即可獲得高質量圖片? 高分辨率和強大的分析能力? 樣品適用性強:不導電樣品直接觀察(低真空功能,10-300Pa)? 全新的multi-finder功能,方便快捷的尋找樣品? 附件功能強大:拉伸臺,冷熱臺,電子束曝光,紅外CCD,離子束清潔系統等。

超高分辨熱場發射掃描電子顯微鏡

超高分辨熱場發射掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM-7610F
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    儀器簡介: JSM-7600F是日本電子株式會社2008年下半年推出的兼顧冷場的高分辨率和熱場大束流為一體的熱場發射掃描電鏡,它幾乎集成了當今掃描電鏡的全部前沿技術,最大200nA的大電流在保證高分辨率的同時,得到高速樣品分析結果,空間分辨率極高,對導電性差的樣品也有很多解決辦法。JSM-7600F自動化程度高,操作直觀方便,可以稱得上是一款高檔次的場發射掃描電鏡。詳情請咨詢日本電子株式會社各地事務所。技術參數:1.分辨率:1.0nm(15kV)/1.3nm(1kV)2.加速電壓:0.1KV-30kV3.放大倍數:25-100萬倍4.樣品室尺寸:最大200mm直徑樣品5.束流強度:1pA到200nA主要特點:長壽命高亮度電子槍,壽命保3年,最大電流400nA以上兼顧超高分辨和大電流無漏磁和半漏磁物鏡可切換標配的五軸馬達驅動全對中樣品臺全自動樣品更換氣鎖全自動樣品臺監控系統全自動物鏡光闌多通道顯示系統減速系統標準配置能量過濾器標準配置可以選配1.5nm高分辨LABE背散射電子探頭可以選配掃描投射探頭(STEM)

JSM-IT200 InTouchScope? 掃描電子顯微鏡

JSM-IT200 InTouchScope? 掃描電子顯微鏡

JSM-7610FPlus 熱場發射掃描電子顯微鏡

JSM-7610FPlus 熱場發射掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM-7610FPlus
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    廣受好評的JSM-7610F的光學系統經過改進,實現了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進一步提升,以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統,提供穩定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進行低加速電壓觀察、通過r-filter分選信號等滿足各種需求的高擴展性。

JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡

JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM-IT500HR
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    JEOL InTouchScope?系列的新機型, 采用新開發的高亮度電子槍和透鏡系統,可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率;從設定視野到生成報告,利用完全集成的軟件大大地提高了作業速度。

Serial Block-face SEM 3View

Serial Block-face SEM 3View

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: Serial Block-face SEM 3View
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    肖特基場發射掃描電子顯微鏡能長時間穩定地提供高電流下的微細探針,與View?2XP(Gatan公司制造)結合使用,能對樣品進行自動切割,自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進行三維重構,可以對精細結構進行三維分析。

JED-2300/2300F 能譜儀

JED-2300/2300F 能譜儀

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JED-2300/2300F
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    JED-2300/2300F Analysis Station是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的TEM/EDS集成系統。通過與SEM的馬達驅動樣品臺聯動使用,可以進行大范圍的觀察和分析。 EDS通過檢測被電子束激發出的樣品特征X射線,確定樣品含有的元素及成分比,可以進行微區的點分析、線分析及面分析。

JCM-6000plus NeoScope? 臺式掃描電子顯微鏡

JCM-6000plus NeoScope? 臺式掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JCM-6000plus NeoScope?
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    新的操作屏幕和觸控屏帶來了方便的操作體驗,使用起來非常直觀。此外,JCM-6000plus標準配置了低真空模式,還可以安裝EDS等附件,是一款功能豐富的臺式掃描電子顯微鏡。

JSM-IT500 掃描電子顯微鏡

JSM-IT500 掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM-IT500
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新機型。 從設定視野到生成報告,用于分析的軟件整合于一體,加快了作業速度!是一款無縫操作,使用更加方便的掃描電子顯微鏡。

JCM-7000 NeoScope? 臺式掃描電子顯微鏡

JCM-7000 NeoScope? 臺式掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JCM-7000 NeoScope?
  • 產地:日本
  • 供應商:深圳市藍星宇電子科技有限公司

    1. 只要放大光學像就能觀察SEM像的Zeromag功能; 2. 即使不切換到EDS模式也能知道圖片視野中的元素的Live analysis功能。

JSM-IT200 InTouchScope 掃描電子顯微鏡

JSM-IT200 InTouchScope 掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM-IT200 InTouchScope
  • 產地:日本
  • 供應商:深圳市藍星宇電子科技有限公司

    1. 只要放大光學像就能觀察SEM像的Zeromag功能; 2. 即使不切換到EDS模式也能知道圖片視野中的元素的Live analysis功能。

JSM-7610FPlus 熱場發射掃描電子顯微鏡

JSM-7610FPlus 熱場發射掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM-7610FPlus
  • 產地:日本
  • 供應商:深圳市藍星宇電子科技有限公司

    JSM-7610FPlus 熱場發射掃描電子顯微鏡,實現了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進一步提升,采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統,提供穩定的高空間分辨率觀察和分析。

JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡

JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM-IT500HR
  • 產地:日本
  • 供應商:深圳市藍星宇電子科技有限公司

    日本JEOL JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡,采用了新開發的高亮度電子槍和透鏡系統,因而能獲得令人驚嘆的高畫質圖像。即使對實時圖像,也能輕松地在CCD圖像上從尋找視野迅速過渡到高倍率(×100,000)觀察。

JSM-7900F 熱場發射掃描電子顯微鏡

JSM-7900F 熱場發射掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM-7900F
  • 產地:日本
  • 供應商:深圳市藍星宇電子科技有限公司

    JSM-7900F 熱場發射掃描電子顯微鏡,它繼承了上一代廣獲好評的性能如極高的空間分辨率、高穩定性、多種功能等的同時,操作性能極大簡單化。該設備不依賴操作者的技能,始終能夠發揮其zui佳性能。

Serial Block-face SEM 3View 發射掃描電子顯微鏡

Serial Block-face SEM 3View 發射掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: Serial Block-face SEM 3View
  • 產地:日本
  • 供應商:深圳市藍星宇電子科技有限公司

    Serial Block-face SEM 3View 發射掃描電子顯微鏡,肖特基場發射掃描電子顯微鏡能長時間穩定地提供高電流下的微細探針,與3View?2XP(Gatan公司制造)結合使用,能對樣品進行自動切割,自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進行三維重構,可以對精細結構進行三維分析。

JSM-IT500 掃描電子顯微鏡

JSM-IT500 掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM-IT500
  • 產地:日本
  • 供應商:深圳市藍星宇電子科技有限公司

    日本JEOL JSM-IT500 掃描電子顯微鏡,是JEOL InTouchScope系列的新機型。 從設定視野到生成報告,用于分析的軟件整合于一體,加快了作業速度!是一款無縫操作,使用更加方便的掃描電子顯微鏡。

JSM-7200F 熱場發射掃描電子顯微鏡

JSM-7200F 熱場發射掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM-7200F
  • 產地:日本
  • 供應商:深圳市藍星宇電子科技有限公司

    JSM-7200F 熱場發射掃描電子顯微鏡,應用了日本電子旗艦機-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術,標配了TTLS系統(Through-The-Lens System),因此無論是在高/低加速電壓下,空間分辨率都比傳統機型有了很大的提升。

高速分析型場發射掃描電鏡

高速分析型場發射掃描電鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM-7200F
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    JSM-7200F是日本電子株式會社(JEOL Ltd.)于2015年推出的一款多功能、簡單易用的分析型場發射掃描電鏡,這款高分辨率掃描電鏡是進行樣品納米級圖像顯微分析與微區化學成分分析的理想選擇。通過內的最佳光闌角控制透鏡技術,JSM-7200F可以在任意加速電壓下實現小束斑尺寸的大分析束流進而可以輕松實現100nm以內的高空間分辨率分析。JSM-7200F/LV配有大樣品倉,非常適合于搭載的能譜儀、波譜儀、EBSD相機、CL陰極發光探測器、拉伸臺、EBL以及SXES(JEOL專利技術,通過探測低能量的波長從而獲得樣品的化學價態信息)等分析探測器。同時,JSM-7200F具有抽屜式樣品倉可以安裝諸如加熱、拉伸以及冷凍樣品臺進行原位分析。

大氣壓掃描電鏡

大氣壓掃描電鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JASM-6200
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    設計亮點 1. 大氣壓下對樣品直接觀察 2.樣品無需任何處理,真正的原貌觀察 3.特別適用領域:生物樣品、水泥、含油樣品等

冷場發射掃描電子顯微鏡

冷場發射掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM-7500F
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    技術參數:1.分辨率:1.0nm(15kV)/1.4nm(1kV) 2.加速電壓:0.1KV-30kV 3.放大倍數:25-100萬倍 4.樣品室尺寸:最大200mm直徑樣品 5.束流強度:10-13到2X10-9 主要特點:1.主動式減震器 2.最先進的磁懸浮分子泵系統,無需UPS保護 3.標配的五軸馬達驅動全對中樣品臺 4.全自動樣品更換氣鎖 5.全自動樣品監控系統 6.全自動物鏡光闌 7.多通道顯示系統 8.自動減速系統標準配置

JEOL JIB-4610F 聚焦離子束(FIB)

JEOL JIB-4610F 聚焦離子束(FIB)

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JIB-4610F
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    儀器簡介:JIB-4610F是集成掃描電鏡和聚焦離子束于一身高性能儀器。電子光學系統采用場發射電子槍,可以對進行實時研磨監控。該儀器又是一個微區觀察、樣品分析、微區研磨的集合體,應用范圍廣泛。技術參數:FIB 分辨率: 5nm, 30kV SEM分辨率: 1.2nm, 30kV (LaB6) FIB束流:最大90nASEM束流:最大200nA氣體輸入系統 x1-3主要特點:1.監控、切割、組裝和三維圖像重構連續操作 2大束流,最大90nA 3.提供空前穩定的圖像 4.氣體注入系統用于刻蝕和沉積 5.最大裝樣 150 mm 6.氣鎖式樣品交換 7.五軸全對中樣品臺 8.多個樣品分析接口

鎢燈絲掃描電子顯微鏡

鎢燈絲掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM-IT100
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    JSM-IT100鎢燈絲掃描電鏡,是日本電子株式會社在2015年9月推出的新型號數字化掃描電鏡。是近幾年銷售名列前茅并深受好評的JSM-6000系列鎢燈絲掃描電鏡的升級產品,并保留了JSM-6000系列良好的操作界面和出色穩定的控制系統,操作更加簡單,堪稱世界上最先進的鎢燈絲掃描電子顯微鏡。主要特點為全數字化控制系統,高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統、全對中樣品臺及高靈敏度半導體背散射探頭;用于各種材料的形貌組織觀察、金屬材料斷口分析和失效分析。該型號在很多大學、研究院所及制造業被廣泛使用。

高速分析熱場發射掃描電子顯微鏡

高速分析熱場發射掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM-7001F
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    技術參數: 1.分辨率:1.2nm(30kV)/3.0nm(1kV) 2.加速電壓:0.2KV-30kV 3.放大倍數:10-100萬倍 4.大束流高分辨5nA,WD10mm,15kV時分辨率3.0nm 5.束流強度:1pA到200nA(15KV) 主要特點: 1.浸沒式熱場發射電子槍,束流強度最大200nA(15KV) 2.無漏磁物鏡設計,便于磁性樣品觀測和EBSP觀測不變形 3.自動光闌角控制器,無需調整光闌 4.全自動控制聚焦、合軸、消像散、控制掃描速度 5.適于配合多種分析性探頭

日本電子JSM-6510掃描式電子顯微鏡

日本電子JSM-6510掃描式電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM 6510
  • 產地:日本
  • 供應商:怡星有限公司STARJOY LIMITED

    儀器簡介:JSM-6510是一款高性能低格的描子微,解析度可3.0nm。可按用要求定做的操作介面便於用直操作器。SmileShot保得到最佳子光。JSM-6510的LGS型大品臺和GS型普通品臺可分6英寸直和32mm直的品。技術參數:放大倍: 5-300,000倍解 析 度: 高真空:3nm(30KV)/8nm(3KV)/15nm(1KV) 低真空:4.0nm(30KV) 子 : 全自,亦可手整 品 臺: 大全中型X=80mm,Y=40mm,Z=5到48mm,斜:-10 - +90度,旋:360度 : 工中()像模式: 二次子像,成份像,拓像,影像加速: 0.5-30KV聚 光 : 可焦聚光物 : 超形物物光: 3,X-Y可 位 移: ±50微米自功能: 聚焦,亮度,度,消像散最大品: 直:150mm品交: 抽拉式品臺真空系: 全自散泵DP。分子泵TMP()作系: Windows XP主要特點:1. 大的子光系,操作最新的超型物,保3nm的解析度。很容易得到高品照片。域描圈可以得到最低5倍的放大倍而提高察品的效率。秀的子光系可以在大束流下形成小束斑,有利於微分析。2. 高解析度JSM6510系列超形物,在工作距8mm的解析度3nm,超形物的外形可以做到短工作距情下品仍然可以大角度斜。3. 全自子JEOL的全自子能生小子束源,只要好加速,就可以行察或成分分析。子偏是子亮度的重要部件。JEOL的自加系能著化整偏,使得哪加速,都能得到最佳亮度。JEOL有的像散功能能自正加速或工作距改而生的像散。4. 多示模式主示可以同示幅即像,分二次子像和背散射子像,考也可 示2幅即像,例如二次子像,背散射子像或者CCD相像。即示模式可以用於不同信像的比,用可在察表面形貌的同解品的成份分情。用多像示模式,"PHOTO"按可同得存2或3幅全屏尺度像。5. 易懂的操作介面及功能表操作介面,直,默的操作介面示了最常用的功能按,以文明,滑鼠即可操作所有功能。即量,片上的度和角度等能在示器上行量。6. 可焦聚光修正做表面察和元素分析等不同用,合束流非常重要,一般是通聚光物光控制子束流的。如果在整束流程中,焦和察域位移化很小, 整起比方便。JEOL有的可焦聚光可以保一。7. 全中品臺品臺斜,全中品臺可使像位移和焦化最小。使用此品臺可多方向察粗糙表面品,用一些不同角度取的片成立片,可通立片察深度。焦在品斜後X,Y或旋方向化很小,使大品巡效率很高。8. 低真空SEM低真空描,除了包括高真空模式外,包括低真空模式,在低真空模式下,不品以及容易放的品都可以直接察。合JEOL有的冷乾燥技,可在低真空模式下快速察含水品。

FEI “Quanta FEG系列” 場發射環境掃描電子顯微鏡”

FEI “Quanta FEG系列” 場發射環境掃描電子顯微鏡”

  • 品牌: 美國FEI
  • 型號: Quanta 250FEG/450FEG/650FEG
  • 產地:美國
  • 供應商:廣州貝拓科學技術有限公司

    儀器簡介:QuantaFEG系列場發射環境掃描電子顯微鏡是FEI公司的最新產品之一。是在FEI公司著名產品XL30ESEM-FEG場發射環境掃描電子顯微鏡的基礎上發展而來的。QuantaFEG場發射環境掃描電子顯微鏡綜合場發射電鏡高分辨和ESEM環境掃描電鏡適合樣品多樣性的優勢,可對各種各樣的樣品(包括導電樣品、不導電樣品、含水含油樣品、加熱樣品等等)進行高分辨的靜態和動態觀察和分析。QuantaFEG和Quanta一樣具有優異的系統擴展性能,可同時安裝能譜儀、波譜儀、EBSP、陰極熒光等附件。主要特點:1.完全數字化系統控制,Windows XP操作系統2.場發射環境掃描系統兼顧高分辨和樣品多樣性3.數字電影功能可將觀察過程記錄為avi視頻文件4.穩定的大束流(最大200nA)確保高速、準確的能譜、波譜和EBSD分析5.可安裝冷臺、加熱臺、拉伸臺等進行樣品原位、動態觀察和分析技術參數:1.分辨率: 二次電子:  高真空模式 1.0nm @ 30kV; 3.0nm @ 1kV  高真空減速模式 2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V (可選項)  低真空模式 1.4nm @ 30kV; 3.0nm @ 3kV  環境真空模式 1.4nm @ 30kV 背散射電子:  高真空和低真空模式: 2.5nm @ 30kV 掃描透射STEM探測器:  0.8nm @ 30kV2.加速電壓 200V ~ 30kV, 連續可調3.高穩定性Schottky場發射電子槍4.最大束流 200nA5.樣品室壓力最高達4000Pa6.樣品臺移動范圍 Quanta 250 FEG: X=Y=50mm Quanta 450 FEG: X=Y=100mm Quanta 650 FEG: X=Y=150mm

FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡

FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 美國FEI
  • 型號: Q25/Q45
  • 產地:美國
  • 供應商:廣州貝拓科學技術有限公司

    對于失效分析、質量控制和材料表征而言、Q25是最經濟、最高效的高分辨成像和分析應用的解決方案。在設計上側重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數據。為應對不導電樣品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了對專用的樣品制備步驟或者附加的樣品鍍膜儀的需求。Q25樣品室的設計和真空系統能夠快速更換樣品、允許日常高效、快速檢測樣品。為滿足客戶對大樣品或塊狀樣品的要求、Q45提供了更大的真空樣品室和100mm的樣品臺行程。另外、Q45加上了環境掃描(ESEM)模式、擴展了SEM的成像和分析功能到加熱、含水或放氣的樣品。? 簡單易用,即使是新手利用直觀的軟件可實現高效操作。? 利用穩定的高束流(上至2 μA)電子束可以迅速獲得精確的分析結果。?快速輕松表征導電和非導電樣品? 支持可選的分析功能。利用獨有的多級穿過透鏡的真空系統在高真空和低真空下使導電樣品和不導電樣品的精確EDS分析成為可能。? Q45 SEM: 采用為ESEM選配的帕爾貼冷臺可在樣品的自然含水狀態下完成樣品的動態原位分析。分辨率加速電壓探針電流 樣品臺放大率試件室尺寸Q25 SEMHigh vacuum3.0 nm at 30 kV (SE)4.0 nm at 30 kV (BSE)*8.0 nm at 3 kV (SE)Low vacuum3.0 nm at 30 kV (SE)4.0 nm at 30k V (BSE)*10 nm at 3 kV (SE)*optional200 V - 30 kVup to 2 μA, continuously adjusted13 to 1000000x284 mm size left to rightQ45 SEMHigh vacuum3.0 nm at 30 kV (SE)4.0 nm at 30 kV (BSE)*8.0 nm at 3 kV (SE)High vacuum with beam deceleration option 7.0 nm at 3 kV(BD mode* + vCD*)Low vacuum3.0 nm at 30 kV (SE)4.0 nm at 30k V (BSE)*10 nm at 3 kV (SE)Extended vacuum mode (ESEM)3.0 nm at 30 kV (SE)*optional200 V - 30 kVup to 2 μA, continuously adjusted6 to 1000000x284 mm size left to right

QEMSCAN 650F巖芯、巖屑自動定量分析系統

QEMSCAN 650F巖芯、巖屑自動定量分析系統

  • 品牌: 美國FEI
  • 型號: QEMSCAN 650F
  • 產地:美國
  • 供應商:北京源海威科技有限公司

    一、設備介紹QEMSCAN巖芯、巖屑分析系統是一個高速自動化的礦物參數自動定量分析系統。能對樣品進行礦物物質組成、巖石特征、成份定量、礦物嵌布特征、礦物粒級分布、礦物解離度等重要參數進行自動定量分析,主要用于石油、礦業、冶金、地質等領域。QEMSCAN系統在石油領域的應用包括:1)鉆芯、鉆削礦物組成、巖石類型分析2)鉆井數據集累3)石油、天然氣勘探4)石油、天然氣資源、藏量評估5)生產井位置選擇6)卡鉆事故預防QEMSCAN巖芯、巖屑分析系統采用FEI公司Quanta 650F 場發射環境掃描電鏡作作為最主要的硬件平臺。Quanta 650F 場發射環境掃描電鏡利用電子束激發樣品產生的二次電子、背散射電子以及X射線等信號,以獲得樣品表面形貌,結合能譜儀等分析儀器可以對微區成分進行檢測,是用于試樣的顯微形貌觀察及微區成分分析的必備手段,除氣體以外的試樣均可用掃描電鏡進行觀察。在石油天然氣領域,Quanta 650F適用于觀察非常規油氣樣品的微納米孔隙結構、大小、類型、微裂縫發育等;用于研究微納孔隙及縫隙上附著的水、油或瀝青,對巖石孔隙的含水飽和度及含油飽和度等進行研究二、QUANTA 650F多用途掃描電鏡主要參數1、電子光學1)高分辨率肖特基場發射電子槍2)加速電壓: 200 V - 30 kV3)束流: 最大200 nA并連續可調4)放大倍數: 6 x 1,000,000 x (四幅圖像顯示)2、分辨率1)30 kV下 3.0 nm(背散射探頭)2)30 kV下 1.0 nm(二次電子探頭)3)3 kV下 3.0 nm(二次電子探頭)3、檢測器1)高靈敏度、低電壓固體背散射探頭2)二次電子探頭3)樣品室紅外 CCD 相機4、真空系統1)樣品室真空度 (高真空模式) < 6e-4 Pa2)樣品室真空度(低真空模式) < 10 to 130 Pa3)樣品室真空度(環境真空模式) < 10 to 4000 Pa5、樣品室1)左右內徑 379mm2)10 mm 分析工作距離3)10個 探測器 / 附件接口4)EDS 采集角: 35°6、樣品臺1)X/Y = 150 mm2)Z = 65 mm3)Z向間隙 93.5mm4)傾斜:- 5° - + 70°5)連續旋轉 360°6)復精度: 2 μm (X/Y 方向)7)偽全對中樣品臺7、SEM 計算機Windows 7操作系統8、能譜儀1)雙硅漂移探頭2)超快速脈沖處理3)電制冷 (無需液氮)

庫賽姆(COXEM)EM-30超高分辨率臺式掃描電鏡

庫賽姆(COXEM)EM-30超高分辨率臺式掃描電鏡

  • 品牌: 韓國庫賽姆
  • 型號: EM-30
  • 產地:韓國
  • 供應商:北京天耀科技有限公司

    品牌:COXEM型號:EM-30制造商:韓國COXEM公司經銷商:庫賽姆中國免費咨詢電話:400-101-5477售后服務電話:400-101-5466 產品簡介:EM-30高分辨率臺式(桌面式)掃描電鏡打破了傳統臺式掃描電鏡采用BSD探測器成像的局限性,利用創新的 雙聚光鏡成像技術,采用大型掃描電鏡成像原理,使用二次電子探測器作為基礎成像單元,從而可以獲得更高的分辨率(<8nm),是真正意義上的高分辨率臺式掃描電鏡。技術特點: 1. 分辨率:業內最高的分辨率(<8nm),展現最真實、最豐富的組織細節2.加速電壓:1-30kv, 滿足不同條件下的分析需求3.放大倍數:x 20 - x 100,000 4.標配二次電子探測器,可選配能譜儀以及背散射電子探測器5.與傳統鎢燈絲相同的三級匯聚式電子光學系統6.樣品臺:自動樣品臺,操控靈活7 .最佳性價比技術指標:外形尺寸400(寬)x 600(長) x 550(高)mm,100kg分辨率[email protected] SE放大范圍x 20 - x 100,000加速電壓1kV 30kV (1/3/5/10./15/20. /30.kV)電子槍發叉式鎢絲陰極探測器探測器首選 SE , BSE/EDS可選樣品臺X: 35mm (馬達驅動), Y: 35mm (馬達驅動),T: 0- 45°(馬達驅動), R: 360°,Z: 0-50.mm樣品尺寸45mm(高),60mm(直徑)圖像模式(像素)RED選區(320x240),TV(640x480),Slow(800x600)Photo(1280x960,2560x1920,5120.x3840)幀頻RED (Max. 3D frames/sec). 1v(Max. 10 frames/sec) ,Slow(Max. 2 frames/sec)真空系統渦輪分子泵真空系統自動功能啟動,聚焦,燈絲,亮度/對比度操作系統Windows 7操作方式鍵盤/鼠標

日立臺式電鏡 TM4000/TM4000Plus

日立臺式電鏡 TM4000/TM4000Plus

  • 品牌: 日立
  • 型號: TM4000/TM4000Plus
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    產品簡介日立臺式電鏡 TM4000/TM4000Plus主要參數:1. 觀察條件:5kV/10kV/15kV(均四檔可調)、EDX2. 放大倍率:10×~100000×3. 觀察模式:導體(TM4000Plus)、標準模式,消除電荷模式4. 探測器:4分割背散射探測器、低真空二次電子探測器            (TM4000Plus)應用領域:生命科學材料科學化學電子制造食品工業

日立新型鎢燈絲掃描電鏡 FlexSEM1000 II

日立新型鎢燈絲掃描電鏡 FlexSEM1000 II

日立新型冷場發射掃描電鏡 Regulus8200系列

日立新型冷場發射掃描電鏡 Regulus8200系列

日立高分辨冷場發射掃描電鏡 Regulus8100

日立高分辨冷場發射掃描電鏡 Regulus8100

  • 品牌: 日立
  • 型號: Regulus8100
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    1. 配備加速電壓減速功能,優秀的低加速電壓成像能力,1kV分辨率可達0.8nm 2. 日立專利E×B技術,無需噴鍍,可直接觀測不導電樣品

日立最新熱場掃描電鏡 SU7000

日立最新熱場掃描電鏡 SU7000

  • 品牌: 日立
  • 型號: SU7000
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    在相同WD的條件下,可同時實現二次電子、背散射電子觀察與X射線分析 最多可同時實現6通道檢測與顯示 可配置18個附件接口

日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡 SU3800

日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡 SU3800

  • 品牌: 日立
  • 型號: SU3800
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    HexBias偏壓鎢燈絲電子槍; 優異的高、低電壓性能; 高靈敏度五分割背散射電子探測器; 可變壓力二次電子探測器(高、低真空可用)。

掃描電鏡/掃描電子顯微鏡招標信息

對比欄隱藏對比欄已滿,您可以刪除不需要的欄內商品再繼續添加!
您還可以繼續添加
您還可以繼續添加
您還可以繼續添加
您還可以繼續添加
您還可以繼續添加