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紅外顯微鏡

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紅外顯微鏡

紅外顯微鏡

紅外顯微鏡是一種利用波長在800nm到20μm范圍內的紅外光作為像的形成者,用來觀察某些不透明物體的顯微鏡。用于紅外顯微鏡的像轉換器有兩種類型,另一種是“固體”類型,它是由一個光電導體層和一個電子發光層所組成,這兩者被夾在可以提供交流電的兩層薄透明導體層之間。相當于真空管陽極的電子發光層,對著光電導體層已經被紅外光輻射轟擊的區域發射可見光,從而形成了可見的像。
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PerkinElmer Spotlight? 150i/200i 傅里葉變換紅外顯微鏡系統

PerkinElmer Spotlight? 150i/200i 傅里葉變換紅外顯微鏡系統

  • 品牌: 珀金埃爾默
  • 型號: Spotlight? 150i/200i
  • 產地:美國
  • 供應商:珀金埃爾默企業管理(上海)有限公司

    極優的性能和簡便的操作確保獲得更加專業的結果。簡潔明了的操作軟件、優化的報告流程設計讓您專心于自身的使命、推動科技的邁進:? 簡便易用的智能化技術? 智能極速搜索熱點區域? 多點、多組分自動測試,批量分析與報告? 自動顯微ATR優化,快速獲得精確結果? 靈活的解決方案,提供一系列可升級的配件選擇典型應用舉例? 食品包裝、消費品、半導體等產品的化學組成分析? 油漆切片、毒品、纖維和爆炸品分析? 塑料共混研究? 藥物片劑、工藝品及紙質文件的紅外光譜成像分析? 藥品真偽和變異性鑒別? 新型生物材料結構檢測分析? 骨質疏松癥、阿爾茲海默癥、癌癥等涉及蛋白質折疊疾病的化學變化分析?

紅外熱成像顯微鏡,

紅外熱成像顯微鏡,

  • 品牌: 上海孚光精儀
  • 型號: Microfelles
  • 產地:德國
  • 供應商:孚光精儀(香港)有限公司

    紅外熱成像顯微鏡 Thermal Imaging Microscope這套紅外顯微鏡專門為微電子研發和制造而設計,包括了一些非常重要的硬件,這些硬件對于分析和診斷半導體器件非常有用:探測熱點和缺陷 電子元件和電路板故障診斷 測量結溫 甄別芯片鍵合缺陷 測量熱阻封裝 確立熱設計規則 電子器件和線路繼續朝著微尺度方向發展,微尺度環境下的熱量產生和熱消散成為該領域的重要課題。這套紅外顯微鏡,熱成像顯微鏡,紅外成像顯微鏡能夠測量半導體器件的表面溫度分布并顯示溫度分布,提供了一種快速探測熱點和熱梯度的有效手段,而熱點和熱梯度也能顯示出缺陷的位置,這些位置很容易導致效率降低和早期的失效。紅外顯微鏡可以有效地檢測微尺度半導體電路的熱問題和MEMS器件的熱問題。就電路的檢測而言:這套熱成像顯微鏡可以用于電路板的失效分析。我們還配備了電路板檢測專用軟件包“模型比較”用于檢測缺陷元件。而且,我們還可以配備“缺陷尋找”軟件模塊來探測難以發現的短路問題并找到短路位置。就MEMS的研發而言:空間溫度分布和熱響應時間這兩個參數對于微反應器,微型熱交換器,微驅動器,微傳感器之類的MEMS器件非常重要。到目前為止,還有非接觸式的辦法測量MEMS器件的溫度,紅外成像顯微鏡能夠給出20微米空間分辨率的熱分布圖像,是迄今為止測量MEMS器件熱分布的有力工具。這套熱成像顯微鏡,紅外熱成像顯微鏡,紅外成像顯微鏡包括了一些非常重要的硬件,這些硬件對于分析和診斷半導體器件非常有用。光學載物臺:堅固而耐用,具有隔離振動的功能;聚焦位移臺:用于相機的精密聚焦和定位;X-Y位移臺:用于快速而精密地把測量區域定位到相機的視場中;熱控制臺: 具有加熱和制冷功能,用于精密器件的溫度控制; 熱成像顯微鏡,紅外熱成像顯微鏡,紅外成像顯微鏡應用*紅外顯微鏡用于半導體IC裸芯片熱檢測*紅外成像顯微鏡探測集成電路的熱點(hotspots)和短路故障*紅外顯微鏡探測并找到元件和電路板上缺陷*紅外顯微鏡測量半導體結點溫度(結溫)*熱成像顯微鏡辨別固晶/焊線/點膠缺陷*熱成像顯微鏡測量封裝熱阻 *紅外顯微鏡確立熱設計規則 *紅外成像顯微鏡激光二極管性能和失效分析 *紅外顯微鏡MEMS熱成像分析*熱成像顯微鏡光纖光學熱成像檢測*紅外顯微鏡半導體氣體傳感器的熱分析*熱成像顯微鏡測量微交換器的熱傳輸效率*熱成像顯微鏡微反應器的熱成像測量*紅外熱成像顯微鏡微激勵器的溫度測量*熱成像顯微鏡生物標本溫度分析*紅外成像顯微鏡材料的熱性能檢測*紅外顯微鏡熱流體分析 熱分析軟件 這套紅外顯微鏡配套的分析軟件。 這種軟件能夠幫助您非常容易而快速地獲得溫度信息,同時,它可以產生實時的(real time)帶狀圖、拍攝并回放圖像序列以及在圖像上選擇任何大小形狀的區域,從而為您提供不同視角和建設性的數據分析手段。中國領先的進口紅外熱成像系統旗艦型服務商--孚光精儀!

Agilent Cary 620 FTIR 顯微鏡和成像系統

Agilent Cary 620 FTIR 顯微鏡和成像系統

  • 品牌:
  • 型號: Cary 620
  • 產地:澳大利亞
  • 供應商:安捷倫科技(中國)有限公司

    Agilent Cary 610 和 Cary 620 FTIR 顯微鏡與化學成像系統代表了最新的頂尖級性能。借助最新的技術進展,該系統現可提供無與倫比的空間分辨率和靈敏度,并且可與多種選件聯用,提供更高的靈活性以適應從常規測量到最前沿的分析方法開發等各種應用。Cary 610 是一款能夠繪圖的單點式 FTIR 顯微鏡,而 Cary 620 是一款焦平面陣列 (FPA) 化學成像 FTIR 顯微鏡。通過將顯微鏡與研究級 Cary 660 FTIR 或頂級的空氣軸承 Cary 670 FTIR 光譜儀聯用,可獲得一體式的兩種儀器研究型 FTIR 光譜儀和 FTIR 顯微鏡。Cary 610 顯微鏡日后可升級為 Cary 620,以便靈活應對應用需求的變化。產品特性:● 采用安捷倫創新的高倍光學系統實現與同步加速器相媲美的空間分辨率和數據質量。● Agilent 600 系列儀器具有高出任何其他 FTIR 系統 400% 的能量,為您提供可能前所未見的詳細信息,確保獲得極高質量的數據。● 獨特的 4x IR 物鏡可確保快速輕松地檢測較大區域內的小特征,無需移動樣品,所有操作均在數分鐘內完成。● 利用安捷倫獨特的“實況 ATR 成像模式”在數分鐘內即可測量嬌嫩的樣品,無需采用耗時的樣品前處理技術(例如樹脂包埋)。● 材料應用包括聚合物、涂層和薄膜的缺陷分析。● 檢測組織和細胞中細微的化學變化(無需染色),有助于改善疾病檢測過程并更早地發現疾病。● 測量水中的活細胞。● 鑒定半導體晶片和電子元件中的缺陷。● Resolutions Pro FTIR 軟件

Nicolet iN10 紅外顯微鏡

Nicolet iN10 紅外顯微鏡

  • 品牌: 賽默飛世爾
  • 型號: Nicolet iN10
  • 產地:美國
  • 供應商:賽默飛世爾科技分子光譜

    儀器簡介:2008 Pittcon 隆重推出的Thermo Scientific Nicolet iN10傅立葉變換顯微紅外光譜儀以全新的集成化設計理念,高效的光學系統和智能的操作方法, 為不同應用領域提供了更高性能方便快捷的顯微紅外檢測分析技術。Thermo Scientific Nicolet iN10 傅立葉變換顯微紅外光譜儀采用獨特高效的一體化光學設計不僅簡化顯微紅外分析操作,且性能更加卓越。 Nicolet iN10顯微紅外光譜儀OMNIC Picta 能軟件的“向導”技術,能幫助沒有顯微紅外光譜儀使用經驗的操作者迅速有效的采集樣品微區的光譜數據,同時得到完整的解決方案。一架顯微鏡,一臺光譜儀完全一體化這是第一次,在紅外顯微鏡內擁有一臺完整的FT-IR光譜儀。NicoletiN10不僅節省了時間,金錢和空間,其一體化設計為高性能紅外顯微鏡提供了顯著提高的光學效率。 *智能化的機器使您無需學習新儀器操作 *分析樣品,立即可見 *低溫冷卻系統可測量小至10微米的樣品 *Micro-ATR超越了衍射極限小至3微米 OMNICPicta軟件 即使您認為您不具備操作一臺紅外顯微鏡的技能,智能化的OMNICPicta軟件幫助您輕松裝載材料和定位分析區域。OMNICPicta可在分析全過程中幫助您,無需您耗時猜測。或者選擇“向導”設計幫助您一步步分析特定的材料,如顆粒,層狀或者隨機混合物樣品。 OMNICPicta是第一個能全過程逐步幫助您的紅外顯微鏡任務式界面 解決最具挑戰性的應用 NicoletiN10顯微鏡是日常分析的理想選擇,適用領域:高分子,橡膠,包裝,油漆,涂層,化合物,微電子,制藥,水泥,化妝品,紡織品,顏料,紙化工,墨水,粘合劑等等。 純化合物的辨別 OMNICPicta提供了每一步你所需的工具。使用一個自解壓向導文件在數秒內建立預覽圖像;然后只需在化合物名稱上單擊,就可知道其分布的百分比以及分布地點。如果為未知材料,您可在其名稱上立即進行搜索! 顆粒和纖維分析 OMNICPicta為您提供便捷的用戶界面,并為您快速輕松的獲取數據設置好一切。顆粒向導能為您更加快速的完成任務!尋找樣品特征,調至最佳光圈,收集光譜圖,然后在您選中的圖庫中進行搜索。最終結果?特征數目,識別結果和每一材料的相對百分數。OMNICPicta提供的是答案,而不僅僅是好的數據。 層狀樣品和高分子膜 油漆碎片和食品包裝的截面分析是紅外顯微鏡的經典應用。OMNICPicta幫助您輕松驅動NicoletiN10快速獲取傳統的“瀑布式”圖像。創新在何處?自解壓向導文件可辨別每一層材料以及每層厚度。另一個向導文件幫助您知道內含物,凝膠和空洞處的成分,僅當需要時將樣品分層或內含物的“提取外科手術”最小化。同時在2008 Pittcon 隆重推出的還有新型的Thermo Scientific Nicolet iN10MX 成像顯微鏡, 它包括成像的光學元件和陣列檢測器,保證儀器簡便快速地獲得高保真的化學成像;Thermo Scientific Nicolet iS10 型傅立葉變換紅外光譜儀,該產品由新版 OMNIC Specta軟件支持。這種易用的系統簡化了傳統的光譜儀,使得分析和研究型化學實驗室的化學家能夠充分利用該技術的力量,從而得到更具自信心的實驗結果;Thermo Scientific DXR SmartRaman型拉曼光譜儀,這是第一款專為滿足質控(Quality Control,QC)實驗室的需求和環境而設計的拉曼光譜儀,DXR SmartRaman型光譜儀將首次讓質控實驗室領略拉曼光譜技術的威力;Thermo Scientific DXR激光共聚焦拉曼光譜儀,該儀器專為幫助非專業人員對小到1微米的顆粒進行快速采樣和分析而度身打造,這種新穎的顯微鏡集卓越的空間分辨率, 出眾的性能和無與倫比的高重現性于一體,并且人人均能使用。技術參數:為目標建立的傅立葉紅外(FT-IR)顯微鏡將紅外顯微鏡帶入了日常實驗室 新的Nicolet iN 10 紅外顯微鏡可滿足如下客戶的需求:當用戶難以掌握此項技術或者覺得成本過高。 *新穎的用戶界面為您管理顯微鏡 *向導軟件一步步教您學會不熟悉的過程 *高性能顯微鏡,無需液氮 *材料科學主要特點:● 高效優化光程設計,配置DTGS檢測器,無需液氮即可安全方便的檢測樣品,有效降低使用成本 ● 顯微光譜儀獨立使用,無需聯機方式,有效提升操作的方便性和維護的簡易性 ● 為各種顯微技術應用設計的智能化“向導”功能,采用全新的顯微測試理念使操作者簡單易行的實施檢測分析的全過程,正確得到樣品光譜的化學物理分布信息 ● Nicolet iN10顯微紅外光譜儀的可升級設計,適應高分辨率、快速檢測和圖像分析等各種應用需求 ● 連接 Nicolet iZ10 FT-IR輔助光學臺可全面滿足紅外光譜檢測的各種需求Nicolet iN10顯微紅外光譜儀高度自動化集成技術提供自動照明、軟件虛擬操縱桿控制的自動平臺、自動聚焦定位、自動光闌、自動背景采集定位 等,以及先進的視頻捕獲技術和雙屏顯示設置,簡化操作,使操作者能專注于檢測分析任務。可完美適用于: *分析服務 *質量控制 *法庭科學

布魯克 Hyperion 3000

布魯克 Hyperion 3000

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: hyperion
  • 產地:德國
  • 供應商:布魯克光譜儀器公司

    在傅立葉變換紅外顯微鏡和化學成像儀的大家庭中,HYPERION代表著最高靈敏度和最高空間分辨率。它的設計完美地結合了高清晰度可見光觀察和高性能紅外光譜分析,可以分析各種樣品。HYPERION系列顯微鏡集布魯克公司25年紅外顯微鏡研發、生產經驗之大成,以其在光學元器件、機械加工和電子電路等方面的高質量設計成就了無以倫比的高穩定性和可靠性。HYPERION模塊化的設計可按您的需求進行定制,以滿足各種有挑戰性的R&D研究工作。其應用領域非常廣泛,覆蓋了材料科學研究、聚合物、化工產品、法庭刑偵、藝術品保護和生命科學等。HYPERION顯微鏡擁有各種對比照明增強的手段、各種專用的紅外鏡頭及化學成像功能,可以使用戶輕松、高效地完成各種高靈敏度的顯微分析。最高的空間分辨率,僅受限于光學衍射極限最高的靈敏度,即使采用較高的空間分辨率測量衰減全反射(ATR)鏡頭,內置壓力傳感器,高精度及高穩定性的機械裝置用于精準定位晶體位置專用的掠角(GAO)鏡頭,雙反射光路設計,用于分析金屬表面的超薄膜全自動的FT-IR面掃描功能,適用于各種測量模式高度集成化的光譜軟件用于數據的采集、分析及歸檔FT-IR成像功能采取最先進的焦平面陣列(FPA)檢測器技術樣品可見光觀察使用紅外顯微鏡對任何何樣品進行紅外分析之前,需要先確定樣品上您感興趣的區域。但是,很多顯微樣品在可見光觀察模式下對比度不強,因此,為樣品特征區的選定增加了難度。HYPERION系列顯微鏡擁有多種先進技術用于增強樣品在透射和反射模式下可見光的對比度。為了獲取某一類樣品的最優化可視圖像,HYPERION裝配了一個鏡頭架和一系列鏡頭。通常情況下,首先使用對比虹膜技術(柯勒式孔徑)來增強樣品的觀察,此外,可以使用旋轉的偏振片在透射和反射模式下對雙折射樣品進行區分;對于散射較強的樣品,可以使用暗場照明;對于含有熒光物質或者熒光標記的樣品,HYPERION也可以選擇裝配熒光照明附件。自動聚焦功能用于觀察層狀樣品的表面。觀察系統樣品的CCD圖像不僅可以在計算機的OPUS軟件上顯示,也可以顯示在顯微鏡前面板的LCD上(HYPERION2000/3000)。該LCD顯示屏使得定位樣品和識別待測位變得更加方便。所有的可見光圖像將與測量譜圖、以及他們的采樣位置一起被保存在一個文件中。HYPERION標準配置一個雙筒目鏡,可以提供更高質量的可見光圖像。因此,即使樣品具有較弱的可見對比圖像,您依然可以輕松地找到待測區域。采樣靈活性通常情況下,對于FT-IR顯微鏡的透射分析實驗,樣品需要被切割成5-15微米厚的薄片。如果樣品沉積在高反射率的基底上,可以采用反射模式測量。但是,有很多樣品既不透明,反射率又不高,這些樣品需要采用衰減全反射(ATR)模式測量。正因如此,ATR鏡頭的質量和通用性對大多數應用是至關重要的。反射表面的超薄層,甚至是單分子薄膜,可以通過掠角反射鏡頭(GAO)來獲取紅外信息。光譜范圍HYPERION的光譜范圍可以從中紅外擴展到近紅外(NIR),甚至到可見譜區(VIS,達到25,000cm-1),也可以擴展到遠紅外波段(FIR,大約80cm-1)。為了覆蓋最寬的光譜范圍,用戶可以選擇不同的檢測器并可由用戶自行更換。HYPERION可以同時安裝兩個檢測器,這兩個檢測器的相互切換可通過軟件操作完成。樣品臺HYPERION 1000配置手動xy樣品臺;HYPERION2000和3000配置高精準度的自動xy樣品臺。此外,用戶可以選配其他樣品臺,如可更換的、可旋轉的、可變溫的(-196 到600 °C)、可控濕度的、可做發射實驗的樣品臺等。共聚焦設計HYPERION的設計理念旨在實現在最高空間分辨率下仍能具有最高的靈敏度。紅外光的光路為共聚焦設計,無論是透射還是反射模式,孔徑光闌均被獨立安裝在樣品前和樣品后的等距平面上。HYPERION紅外顯微鏡的空間分辨率僅受限于入射光的物理衍射極限。HYPERION的標準配置是一個透明的刀口光闌,用戶可以選擇金屬刀口光闌、虹膜光闌及光闌轉輪以及軟件控制的全自動刀口光闌。所有的光闌可被輕松替換。化學成像HYPERION 3000顯微鏡集紅外成像功能和單點測量功能于一身。該系統包括最先進的焦平面陣列(FPA)檢測器技術,該技術可以實現每秒鐘幾千張譜圖的同時采集。即使對于更大的采樣區域,它依然能夠快速地以最高的空間分辨率來進行數據采集。僅需幾秒鐘,用戶即可以得到高分辨率的化學成像。它最快的掃描速度為每秒鐘可同時采集16,384張譜圖,形成一個340μm x 340 μm的化學圖像。更大面積的區域可以通過紅外成像與紅外掃描相結合來實現。HYPERION3000 所有的鏡頭都具有極高像素分辨率,其分辨能力僅受限于光的衍射極限。大面積的圖像處理功能均可通過OPUS軟件來實現。

布魯克Lumos獨立式紅外顯微鏡

布魯克Lumos獨立式紅外顯微鏡

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: Lumos
  • 產地:德國
  • 供應商:布魯克光譜儀器公司

    LUMOS: 高清晰圖像LUMOS是一款全自動的獨立式紅外顯微鏡,它完美地結合了高清晰度可見光觀察、高性能紅外譜圖測量及智能化操作等特點。由于采用高精度馬達和智能通訊系統,LUMOS具有杰出的自動化性能。直觀的向導軟件會引導用戶逐步進行數據的采集和處理。LUMOS的ATR晶體采用自動化控制,因此所有的透射、反射和ATR模式的測量,都可以自動完成。LUMOS不僅適合常規的測試,它的高靈敏度也使其在更高要求的研發應用領域有同樣出色的表現。獨立式、全自動傅立葉變換紅外顯微鏡舒適、簡單的操作自動化ATR物鏡充裕的樣品操作空間紅外測試與可見光成像的性能俱佳LUMOS: 高度智能化簡單易用的全自動紅外顯微鏡LUMOS是一款獨立的紅外顯微鏡。它體積雖小,但卻整合了傳統傅立葉變換紅外光譜儀所需的所有光學系統。LUMOS紅外顯微鏡是按照高性能且簡單易用的全新理念設計研發,所有部件都實現了自動化控制并配以電子編碼,確保實現全自動化、高智能操作流程。革命性的創新設計是采用自動化控制ATR晶體,該設計確保了用戶無需任何手動操作便可實現從透射到反射到ATR模式的切換,或是ATR模式下背景和樣品的自動轉換和測量。LUMOS 的智能化包括:自動控制ATR晶體自動控制透明刀口光闌 自動控制聚焦鏡 自動控制可見光起偏器和檢偏器 自動控制樣品臺自動控制Z方向驅動自動控制紅外測試模式和可見觀察模式的切換自動控制紅外測試模式和可見觀察模式的數值孔徑電子識別樣品臺通過這些高度自動化的部件和電子識別設計,LUMOS的專業軟件會引導用戶完成整個測試流程,有效地避免了可能的錯誤操作。LUMOS主機上無任何按鍵,所有的功能都是由軟件控制完成。用戶界面會在每個實驗步驟之后顯示下一步可選的操作,引導用戶繼續試驗。LUMOS包括一個智能物鏡,該物鏡可用于透射、反射及ATR模式下的可見光觀察和紅外測量。在透射與反射模式下,ATR晶體隱藏在物鏡里;在ATR模式下,ATR晶體則自動置于紅外光路焦點處,進行背景數據的采集。同時,ATR鏡頭內置的壓力控制單元可以確保ATR晶體對樣品的壓力保持恒定,這對于面掃描與紅外成像測量是必不可少的。壓力控制單元設有三種不同級別,通過軟件進行選擇,適合各種硬度的樣品,確保測量結果最佳化。保證晶體與樣品的緊密接觸又不損壞ATR晶體。由于ATR晶體使用的是高折射率(n=4)的鍺,所以即使是顏色很深的樣品也能用于ATR模式測量。LUMOS提供了充裕的樣品空間和最大的工作距離,可以容納各種尺寸的樣品;寬敞的樣品臺,使用戶能夠很方便地放置和更換樣品,操作更加舒適。樣品定位LUMOS物鏡的最大工作距離為30mm。在不調整任何硬件的情況下,用戶可將至多40mm厚的樣品放在樣品臺上進行觀測。平坦的自動化樣品臺,以及物鏡與樣品臺的超大間距,使樣品放置起來非常便捷。另外,樣品臺上還清楚的標記出了顯微鏡可觀測到的區域。樣品臺LUMOS可以配置手動樣品臺和自動樣品臺。如果樣品需要進行不同點的測試,或進行化學成像測試,則需要配置自動樣品臺。樣品臺的移動距離大(75 x 50 mm),調節精度高(0.1 μm),可以適合大樣品、高空間分辨率的測試。LUMOS樣品臺可以通過操作桿或者計算機自動控制。樣品臺中心的樣品架提供了用于透射模式和反射模式下自動背景測試的標準參考位,同時也為LUMOS內部的光學自動校準提供參比。LUMOS可配置各種規格的樣品臺,用于特定樣品的定位;同時也可兼容變溫附件、變壓附件。舒適度與易用性LUMOS是一款高度集成的獨立式紅外顯微鏡。 它的尺寸為(長30X高64X寬1300px)比傳統的紅外顯微鏡小巧很多。LUMOS的智能物鏡,可以用于透射、反射和ATR測試。在高數值孔徑下,可以達到1.5 x 1.2 mm的視場(FOV)。LUMOS的光學系統和此物鏡的優化匹配,保證了高質量的圖像。為了滿足可見光成像模式下更大的景深和紅外模式下更高的靈敏度,LUMOS會在切換這兩個模式時自動調節數值孔徑,達到最佳的效果。LUMOS配有兩個獨立可調的、高亮度、高均一性的LED光源,用于透射和反射模式下的可見光照明。為了提高圖像的對比度,LUMOS使用了“柯勒式孔徑”技術。物鏡的放大倍數最高可達32倍,用于樣品細微結構的觀測。所有的可見光圖像均由快速、高分辨率的數字CCD進行采集。計算機自動控制的起偏器和檢偏器用于觀察雙折射率的樣品。獨立式紅外顯微鏡直觀的軟件引導用戶完成紅外顯微鏡的測試過程。左側窗口中的功能條顯示下步可選的操作,中心窗口顯示相機采集的實時樣品圖像,右邊窗口顯示已采集的可見光圖像。樣品測試點可以是連續的點、線、面或者是不連續的點(可在實時圖像上顯示)。用戶可在任何感興趣的位置進行標記和注釋。工作流程與軟件LUMOS是由OPUS紅外軟件控制,簡單易用,功能強大。諸如數據采集、數據處理、數據評估和數據報告等功能都可以在OPUS中完成。OPUS-Video會指導用戶一步一步完成數據采集過程。通過用戶界面,使用者可以進行可見光區的觀察,設置樣品測試點、空間分辨率和采集時間,確定測試模式,最后開始自動測試。OPUS-Video每次僅顯示下一步可能使用的功能,保證了測試流程的簡單性和高效性。LUMOS所有的部件均由計算機自動控制,無論是透射、反射還是ATR模式,都可自動完成背景測試和樣品測試。所有的測試結果會自動保存在一個文件中,該文件包括可見光圖像、光譜數據、樣品信息和實驗參數等。用戶可以在OPUS 軟件中調入這些文件進行處理。面掃描和化學成像數據也可以很容易的在OPUS軟件中用單變量和多變量方法加以處理和評估。用戶可將紅外化學成像和可見光的2D/3D圖像排列在一起進行對比和分析。紅外數據可以采用多種方法進行處理,如積分特定波段、3D聚類分析、主成分分析(PCA)等,確定化學組成或研究樣品表面的分布均勻性。在面掃描或者成像數據的紅外譜圖上直接點擊右鍵,用戶可以進行譜庫檢索,以確定所關心的未知化合物的化學結構。OPUS可以提供不同種類物質的光譜數據庫,以便輕松地鑒定未知樣品。OPUS所有譜圖和圖像可以以多種格式導出,不會損害數據的完整性。強大的核心技術高性能干涉儀LUMOS是一款獨立式傅立葉變換紅外顯微光譜儀,該譜儀的核心部分采用布魯克公司獨家專利設計、備受贊譽的永久準直RockSolid的干涉儀。它的三維立體角鏡,全鍍金面鏡,和永遠位于質心處的無磨損軸承,使其具備了壽命長,靈敏度高,抗振能力強的特點。RockSolid干涉儀利用了“三維立體角鏡中的入射光和反射光永遠平行”的光學原理,實現了干涉光路的永久準直,因此LUMOS不受鏡面傾斜、振動和熱效應的影響,具有極強的穩定性,用戶無需進行任何調整。漆片表面的ATR面掃描光譜圖(分辨率為100px ,采集時間為16秒/點)。光闌大小根據不同層的可見光圖像特征設定。右上角的視圖顯示了不同區域的測試點(紅色矩形框為光闌尺寸),被選定的位置用實心圓點進行標識,并且在下面的窗口中顯示其對應的紅外光譜。左上角的3D柱形圖顯示了不同測量點上的羰基吸收峰強度,表明紅色的涂層中該成分含量高。這種定量分析是通過對光譜圖中標定的峰位區域做積分處理后獲得的。通過OPUS軟件的圖像輸出功能,即可得到上圖中顯示的3D數據圖像。不僅限于微區分析三維立體角鏡不受鏡面傾斜的影響,入射光與反射光達到絕對平行。這是布魯克光譜儀器公司RockSolid干涉儀永久準直的基本原理。大尺寸樣品采樣盡管LUMOS是一款獨立式紅外顯微鏡,但它的測量對象并不僅限于微小樣品。用戶只要將MACRO UNIT單元與LUMOS左邊的接口相連就可以進行較大尺寸樣品的測量。同時,Alpha型紅外光譜儀上的所有QuickSnap智能模塊都適用于MACRO UNIT單元。因此可以分析固體、液體和氣體樣品。只要輕觸按鍵,就可以輕松更換各種采樣模塊。所有的QuickSnap模塊都擁有電子識別編碼。當模塊插入MACRO UNIT單元后,儀器就會自動識別該模塊,并根據模塊的類型調入正確的測量參數。操作者只需要將樣品放入模塊,就可以開始測量樣品。LUMOS不僅能分析微小樣品,還能通過MACRO UNIT單元分析大尺寸樣品。MACRO UNIT單元與LUMOS的左邊相連,用戶可以選擇不同的QuickSnap模塊進行測量。適用于ALPHA和LUMOS的各類紅外采樣模塊(透射、ATR、鏡反射與漫反射附件)。性能認證如今,許多實驗室都必須符合各種管理機構的認證。布魯克光譜儀器公司為用戶提供了全面的系統認證。從設計認證(DQ)到操作認證(OQ)以及日常性能認證(PQ),LUMOS支持各種認證要求。布魯克光譜儀器公司的認證系統還提供相關的文件,并引導完成認證過程中所有必需的步驟。布魯克公司專業的工程師將為您提供認證、儀器安裝和年度檢驗等服務。OPUS認證程序(OVP)用于幫助制藥企業和其他需要遵守GMP/GLP/cGMP等協議的相關公司,提供綜合全面的OQ及PQ認證服務。如果LUMOS紅外顯微鏡安裝了自動樣品臺,那么對自動樣品臺的精確度、OQ和PQ的測試都是自動進行的。LUMOS的OVP還支持更高階的認證歐盟藥典認證2.2.24和日本藥典認證2.25。LUMOS包含了等效于NIST SRM1921b認證的Bruker BRM 1921 MIR內置校準單元,所有例行程序的測試報告會自動生成與存檔。使用者可以通過OPUS軟件中的狀態燈了解儀器當前的使用情況。當LUMOS的任何一個部件與規范不符,或是OQ或PQ測試過期,使用者馬上會得到信息提示。OVP同樣支持21 CFR part 11規范中處理數據安全、數據可追溯性與數據真實性的所有要求。用戶也可以根據需要,對儀器認證提供延保和延長服務。透射模式、空間分辨率為15μm下測量到的洋蔥組織。在可見光圖像上面的紅外化學成像中,清晰地顯示了細胞內的蛋白質含量。性價比高、使用周期長傅立葉變換紅外光譜技術可以用于鑒定任何材料的化學成份,已經非常成熟。在儀器的使用壽命期間,通常不需要更換耗材或昂貴的部件。LUMOS采用壽命長達10年以上二極管激光器,紅外光源的壽命也達到了5年以上。其核心部分,即永久準直的RockSolid干涉儀,壽命也在10年以上。LUMOS內部所有的光學窗口材料及分束器均由ZnSe材質制成。ZnSe具有良好的防潮性,即使在高濕度的環境中,依然能正常使用。與傳統紅外顯微鏡不同,LUMOS不需要用干燥空氣進行吹掃,其主光路部分完全密封,并且通過干燥劑實時進行干燥處理,從而將水蒸氣和二氧化碳的干擾降到最小。干燥劑在儀器使用壽命期內是可以重復再生的。用戶可以方便地對干燥劑進行再生和更換。LUMOS標配的液氮冷卻高性能MCT檢測器,提高了空間分辨率及檢測的靈敏度,縮短了數據采集時間。檢測器對液氮的消耗很少,一個工作日僅消耗300ml。如果用戶沒有液氮,我們也可以在LUMOS上安裝DTGS檢測器,雖然靈敏度略低,但穩定耐用,是一個經濟型的選擇。LUMOS設計緊湊,體積小巧(長30x寬1300px),節約了寶貴的實驗室空間。通過采用二極管激光器、高能效的紅外光源、LED燈和現代電子技術,成就了LUMOS極低的能耗,節能環保。

紅外顯微鏡

紅外顯微鏡

  • 品牌: 上海孚光精儀
  • 型號: IRmicon
  • 產地:美國
  • 供應商:孚光精儀(香港)有限公司

    紅外熱成像顯微鏡 紅外成像顯微鏡,紅外熱成像顯微鏡Thermal Imaging Microscope這套紅外顯微鏡專門為微電子研發和制造而設計,包括了一些非常重要的硬件,這些硬件對于分析和診斷半導體器件非常有用:探測熱點和缺陷 電子元件和電路板故障診斷 測量結溫 甄別芯片鍵合缺陷 測量熱阻封裝 確立熱設計規則 電子器件和線路繼續朝著微尺度方向發展,微尺度環境下的熱量產生和熱消散成為該領域的重要課題。這套紅外顯微鏡,熱成像顯微鏡,紅外成像顯微鏡能夠測量半導體器件的表面溫度分布并顯示溫度分布,提供了一種快速探測熱點和熱梯度的有效手段,而熱點和熱梯度也能顯示出缺陷的位置,這些位置很容易導致效率降低和早期的失效。中國領先的進口紅外熱成像系統旗艦型服務商--孚光精儀!紅外成像顯微鏡,紅外熱成像顯微鏡可以有效地檢測微尺度半導體電路的熱問題和MEMS器件的熱問題。就電路的檢測而言:這套紅外成像顯微鏡,紅外熱成像顯微鏡可以用于電路板的失效分析。我們還配備了電路板檢測專用軟件包“模型比較”用于檢測缺陷元件。而且,我們還可以配備“缺陷尋找”軟件模塊來探測難以發現的短路問題并找到短路位置。就MEMS的研發而言:空間溫度分布和熱響應時間這兩個參數對于微反應器,微型熱交換器,微驅動器,微傳感器之類的MEMS器件非常重要。到目前為止,還有非接觸式的辦法測量MEMS器件的溫度,紅外成像顯微鏡能夠給出20微米空間分辨率的熱分布圖像,是迄今為止測量MEMS器件熱分布的有力工具。這套紅外成像顯微鏡,紅外熱成像顯微鏡包括了一些非常重要的硬件,這些硬件對于分析和診斷半導體器件非常有用。光學載物臺:堅固而耐用,具有隔離振動的功能;聚焦位移臺:用于相機的精密聚焦和定位;X-Y位移臺:用于快速而精密地把測量區域定位到相機的視場中;熱控制臺: 具有加熱和制冷功能,用于精密器件的溫度控制; 紅外成像顯微鏡,紅外熱成像顯微鏡應用*用于半導體IC裸芯片熱檢測*探測集成電路的熱點(hotspots)和短路故障*探測并找到元件和電路板上缺陷*測量半導體結點溫度(結溫)*辨別固晶/焊線/點膠缺陷*測量封裝熱阻 *確立熱設計規則 *激光二極管性能和失效分析 *MEMS熱成像分析*光纖光學熱成像檢測*半導體氣體傳感器的熱分析*鏡測量微交換器的熱傳輸效率*熱成像顯微鏡微反應器的熱成像測量*紅外熱成像顯微鏡微激勵器的溫度測量*熱成像顯微鏡生物標本溫度分析*紅外成像顯微鏡材料的熱性能檢測*紅外顯微鏡熱流體分析 熱分析軟件 這套紅外成像顯微鏡,紅外熱成像顯微鏡配套的分析軟件。 這種軟件能夠幫助您非常容易而快速地獲得溫度信息,同時,它可以產生實時的(real time)帶狀圖、拍攝并回放圖像序列以及在圖像上選擇任何大小形狀的區域,從而為您提供不同視角和建設性的數據分析手段。中國領先的進口紅外熱成像系統旗艦型服務商--孚光精儀!

布魯克Inspire紅外原子力顯微鏡

布魯克Inspire紅外原子力顯微鏡

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: Inspire
  • 產地:美國
  • 供應商:德國布魯克AXS有限公司北京代表處

    最高分辨率的納米級化學和性質成像Bruker’s Inspire系統在常規AFM成像速度下可獲得納米級的紅外吸收和反射圖像,不受間接手工操作的逼近的限制,或為用戶增加使用的繁瑣。該系統實時地將原子級的納米力學成像與分辨率達10納米的紅外sSNOM 時空光譜成像以及獨一無二的納米電學測量相關聯。簡而言之,Inspire重新定義了原子力顯微鏡的應用。Inspire 的出現,第一次將最高分辨率納米尺度下的化學和性質成像與最先進的AFM技術和無與倫比的AFM性能結合:采用直接光學逼近方法獲得最高分辨率的納米化學性質表征和等離子基元效應布魯克公司獨有的PeakForce Tapping技術可提供最為精準的定量納米機械性質的成像全新的PeakForce IR技術可以實現以往技術難以實現的納米化學性質的成像利用ScanAsyst自動優化圖像和集成的sSNOM光學系統可快速的獲得數據卓越的成像技術操作簡單Inspire 使用sSNOM直接光學的反射和吸收成像以獲得最高的空間分辨率和靈敏度的納米化學信息。以往需多年的專業技術和數周的搭建時間獲得的實驗數據,Inspire的集成光學系統可以更快更簡單的實現。PeakForce Tapping(峰值力輕敲)技術及智能成像模式保證了即使是初學者也可以在幾分鐘之內獲得專家級的AFM成像質量。PeakForce Tapping技術的強力支撐布魯克公司獨有的PeakForce Tapping技術采用精確地控制每個像素下的力曲線,能夠降低成像時的作用力,這樣可以保護探針,同時最高分辨率的形貌圖和納米尺度性質的AFM圖像。Inspire利用了布魯克獨有的PeakForce Tapping技術為紅外散射近場光學顯微鏡(sSNOM),提供了全新的方法,擴展了它在大量樣品的納米尺度的化學成像。PeakForce IR技術是一種通過交錯sSNOM信號采集和PeakForce Tapping的反饋,在同一時間獲得全部的組合信息的全新技術。新材料的化學成像PeakForce IR技術超越了傳統的AFM,sSONM,或光熱方法下實現的納米級成像的范圍。Inspire 還可以鑒定材料類型,以及檢測靈敏度達單分子層級的膜厚變化。紅外納米表征技術可以擴展至:粉末和高分子刷等接觸模式和輕敲模式都很難成功測量的樣品橡膠體的成分,金屬材料,半導體材料,陶瓷和其他在光熱方法下不能測量的材料石墨烯等離子體,電子結構和化學修飾的樣品為新的發現直接提供相關聯的信息擁有PeakForce IR技術的Inspire通過具有所有優勢的散射sSNOM技術提供的掃描探針的紅外反射和吸收成像,使獲得化學、材料和等離子基元的最高空間分辨率的成像成為可能。該技術還可以與PeakForce QNM聯用實時的進行定量納米機械模量和粘附力的成像。與PeakForce IR的聯用,PeakForce KPFM 實現了在10nm分辨率水平下的毫伏級的定量的功函數成像,PeakForce TUNA實現了即使在柔軟和易碎樣品上無法在接觸模式下獲得的導電圖像。生產力的新標準PeakForce IR利用布魯克獨有的智能成像模式專利技術,通過自動成像優化,能夠更簡單、更快速獲得一致的AFM圖像。結合帶有由光學場圖引導的point-and-click光學校準的快速光路設置集成光學系統,使得實驗準備時間減少到幾分鐘。高性能的AFM掃描器確保可以在掃描速率達10Hz時也獲得高分辨率的紅外成像。對于任何對散射sSNOM技術、納米級石墨烯研究感興趣的科學家,或者需要得到高分辨化學性質成像的研究者來說,擁有PeakForce IR技術的Inspire是您最理想的選擇。技術參數光路系統 集成紅外散射SNOM系統: 包含必需的光學器件, 激光和檢測器; 高質量的寬頻光學元件; 低噪音, 液氮冷卻的探測器; 精確的干涉儀控制系統; 低噪聲量子級聯激光器光源; 優化的近場采集和激發光路AFM掃描頭 可支持應用模塊的AFM掃描頭(可支持所有選擇模式)掃描器 125μm x 125μm (X-Y) x 5μm( Z range); 可以根據需求選擇其他掃描器控制器 NanoScopeV 控制臺, 配v9.0 Nanoscope實時控制軟件; NanoScope v1.5 分析軟件; Windows 7 操作系統模式掃描探針紅外模式: IR sSNOM 在 TappingMode and PeakForce IR模式下運行常規成像模式: 智能成像模式 峰值力輕敲模式 輕敲模式 接觸模式 扭轉共振模式 掃描隧道顯微鏡 摩擦力顯微鏡 相位成像可選擇的材料表征模式: PeakForce KPFM納米級熱分析 導電原子力顯微鏡液態成像 PeakForce TUNA電化學原子力顯微鏡 PeakForce QNM納米壓痕 PeakForce Capture壓電力顯微鏡 力曲線陣列 電場力和磁力顯微鏡

Agilent Cary 610 紅外顯微鏡

Agilent Cary 610 紅外顯微鏡

  • 品牌:
  • 型號: Cary 610
  • 產地:澳大利亞
  • 供應商:安捷倫科技(中國)有限公司

    Cary 610 是一款能夠繪圖的單點式 FTIR 顯微鏡,而 Cary 620 是一款焦平面陣列 (FPA) 化學成像 FTIR 顯微鏡。通過將顯微鏡與研究級 Cary 660 FTIR 或頂級的空氣軸承 Cary 670 FTIR 光譜儀聯用,可獲得一體式的兩種儀器研究型 FTIR 光譜儀與 FTIR 顯微鏡。Cary 610 日后可升級為 Cary 620,以便靈活應對應用需求的變化。產品特性:● 在高光學和空間分辨率下擁有極高的成像靈敏度。● 有多種測量模式可選,包括透射、反射、衰減全反射 (ATR) 和掠角反射。● 品質優秀的成像附件,如掠角反射附件和 Slide-on ATR 附件。● 已獲專利的“View-Thru”檢測孔方便操作者觀察肉眼可見的樣品并快速選擇測量的關注區域。● 通過多功能、直觀的軟件環境進行控制,讓各種水平的用戶都能輕松地完成 FTIR 顯微操作。● 在測量的任何階段都能夠自由訪問原始數據。這可以對紅外圖像進行高效的處理和生成,無需重新收集數據,節約了寶貴的時間和資金。● 該系統可以輕松地升級到 Cary 620-FTIR 以提升運行的靈活性,滿足不斷變化的顯微和成像的需求。● Resolutions Pro FTIR 軟件

紅外化學成像系統 (IR-Imaging)

紅外化學成像系統 (IR-Imaging)

  • 品牌: 賽默飛世爾
  • 型號: Continuum XL
  • 產地:美國
  • 供應商:賽默飛世爾科技分子光譜

    儀器簡介:ContinuμmXL紅外成像系統采用完全升級的模式,可以從單點分析的顯微鏡升級配置到目前領先的雙排陣列數據采集顯微紅外成像系統和FPA焦平面陣列數據采集顯微紅外成像系統,它代表著目前紅外顯微鏡的最高水平,提供最高的空間分辨率的快速樣品分析與研究。主要特點:1.涵蓋 Continuμm 顯微鏡所有專利技術及強大功能2.軟件控制單光闌/雙光闌切換,根據樣品不同,提供紅外成像或高空間分辨率、高信噪比的樣品測量3.透射、反射、掠角反射及 ATR 測量,模式齊全4.中/近紅外光譜范圍,單點測量5種檢測器可供選擇5.紅外成像系統獨有高效的雙排陣列檢測器,兩種像素測量尺寸選擇6.預覽模式下,自動樣品臺有三種移動速度,快速準確找到測量微區7.高清晰高質量圖像采集模式8.USB2.0 高速數據傳輸接口

μAMOS 紅外共焦激光失效分析儀

μAMOS 紅外共焦激光失效分析儀

  • 品牌: 北京濱松光子
  • 型號: μAMOS
  • 產地:日本
  • 供應商:濱松光子學商貿(中國)有限公司

    紅外-光致阻值改變(IR-OBIRCH)分析系統“μAMOS”是一款半導體失效分析儀,使用IR-OBIRCH方式來定位漏電流路徑和LSI器件中的異常阻抗接觸部件。在特定頻率下,使用lock-in單元來探測OBIRCH信號可大大提高信噪比。而且,通過使用大電流探針頭,也可以對大電流高電壓工作的器件進行分析。特性圖像空間分辨率高背面觀測(λ=1.3 μm)可觀測高摻雜基底(Epi-sub)使用紅外激光(λ=1.3 μm)意味著在半導體視場內不會產生OBIC信號,因此可探測到缺陷引發的OBIRCH信號可以測量4象限電壓/電流可升級到微光顯微鏡(選配)應用漏電流路徑定位IDDQ失效分析金屬缺陷探測金屬線缺陷探測(空,硅節)觸控(過孔)異常阻抗部件探測金屬化過程監控*:IDDQ (Quiescent power supply current,靜態供電電流):IDDQ為MOS管開關完成后流過的靜態供電電流。參數產品名稱uAMOS-1000尺寸/重量主單元:1360 mm(W)×1410 mm(D)×2120 mm(H), Approx. 900 kg控制臺:880 mm (W)×700 mm (D)×1542 mm (H), Approx. 255 kg選配桌:1000 mm (W)×800 mm (D)×700 mm (H), Approx. 45 kg線電壓AC220 V (50 Hz/60 Hz)功耗約 3000W真空度約80 kPa或更大壓縮空氣0.5 MPa to 0.7 MPa可用器件晶片*前面切塊后的芯片到300mm晶片背面200/300 mm晶片(其他尺寸晶片可通過增加選配來處理)*:與選用探針的規格有關封裝后IC前面芯片打開到表面的IC背面鏡面拋光到硅基底的IC紅外共焦激光顯微鏡掃描速度(秒/圖)512×51212481024×102424816激光*1.3 μm激光二極管輸出: 100 mW1.3 μm高功率激光器(選配)輸出: 超過400 mW1.1 μm脈沖激光器(選配)輸出: 200 mW (CW), 800 mW (pulse)*: For 1.3 μm laser, one of two laser can be integrated.光平臺移動范圍*X±20 mmY±20 mmZ75 mm*:由于探針或者樣品平臺的阻礙,該值肯會更小透鏡放大一個轉臺可選透鏡數達5個。透鏡數值孔徑WD (mm)視場μAMOS-10001×: A7649-010.032013×13標配2×: A80090.055346.5×6.5選配M-PLAN-NIR-5×: A11315-010.1437.52.6×2.6標配M-PLAN-NIR-20×: A11315-030.40200.65×0.65標配M-PLAN-NIR-50×: A11315-040.42170.26×0.26選配NIR 50×: A8756-0120.4218.30.26×0.26選配High NA50×: A8018120.76120.26×0.26選配M-PLAN-NIR-100×: A11315-050.50120.13×0.13標配NIR 100×: A8756-0220.5013.30.13×0.13選配M-PLAN-NIR-100×HR: A11315-0610.70100.13×0.13選配G-PLAN-APO-NIR-100×HR: A11315-08120.7060.13×0.13選配1:用1來標記的鏡頭有兩種可選2:用2來標記的鏡頭帶玻璃厚度補償功能獲取OBIRCH圖像電壓固定型電流固定型微電流放大器施加電壓±10 mV to ±10 V±10 mV to ±10 V±10 mV to ±25 V最大電流100 mA100 mA100 μA探測率1 nA11 μV23 pA11:為輸入放大器的最大可探測脈沖信號2:計算值外形圖(單位:mm)

島津 紅外顯微鏡系統 AIM-8800

島津 紅外顯微鏡系統 AIM-8800

  • 品牌: 日本島津
  • 型號: AIM-8800
  • 產地:日本
  • 供應商:上海納锘實業有限公司

    技術參數: 產品信息 作為新一代先進的紅外顯微鏡,島津 AIM-8800無論工作臺的移動,光圈的設定還是聚焦都可以通過PC畫面來控制,是高智能的傅立葉變換紅外顯微鏡。可以采 用透射法、反射法和ATR法,應用領域十分廣泛。不僅能實現高靈敏度的微量分析,而且操作簡單方便,選配Mapping掃描軟件后可以實現強大的微區掃描 的功能。 grayicon.gif 主機特點 * AIM VIEW先進控制系統 自動調節光圈 光圈由馬達驅動。由鼠標操作可自由設定光圈的孔徑面積和角度。打破 了以往的常規,不必再將樣品置于可視畫面的中心,無論什么位置只要設定了光圈,顯微鏡就會保持光圈大小和角度,自動移動樣品至光量最強的位置進行測定。 自動X-Y樣品工作臺 能夠記憶10個樣品位置,2個背景位置。能以最小1μm的步長移動工作臺。 自動聚焦 聚 焦不再是麻煩的工作,只需要單擊鼠標即可自動聚焦。 自動定中心 鼠標雙擊可視畫面上的任意一點即可將該點移至畫面中心 * 高靈敏度的不需維護的MCT檢測器 超高靈敏度的MCT檢測器保證信噪比在2600:1以上。配備高真空玻璃杜瓦瓶的液氮監視 器,不需要抽真空維護。 * 多種附件的應用 金剛石池、ATR反射物鏡、32倍反射物鏡以及Mapping掃描軟件等多種附件的選擇可以使應用范圍進一步擴 展。

PerkinElmer Spotlight 150i/200i 傅里葉變換紅外顯微鏡系統

PerkinElmer Spotlight 150i/200i 傅里葉變換紅外顯微鏡系統

  • 品牌: 珀金埃爾默
  • 型號: Spotlight 150i/200i
  • 產地:美國
  • 供應商:美國perkinelmer有限公司

    在經常進行紅外分析和紅外顯微鏡分析的新材料、法醫學、制藥、生物材料、食品包裝和學術研究以及其他多種學科領域里的各個實驗室,正朝著對使用者專業化要求降低、多種儀器并用的方向發展。隨著實驗室功能的擴展和集成化,使用者正面臨著更大挑戰:在提高測試效率的同時去測試更多種類和尺寸規格的樣品。這就是新的模式,您必須適應這種不斷的發展變化并準備好迎接更具挑戰性的任務。SpotlightTM設計的目的就在于幫助您應對這些或大或小的挑戰。它操作非常簡單,初學者也能輕松上手;清晰明了的軟件可幫助您控制任何類型的樣品從極小樣品到大樣品;合理精簡的報告工具,讓您公司的所有人員都能專注于自己的核心職責:推動您的科學向前發展。SpotlightTM采用智能技術,使用簡單;能智能化地搜索關注區域。可進行多點和多成分測量的批量分析和報告,自動ATR可幫助您快速獲得準確結果。最重要的是,它是一款帶有全功能FT-IR的高性能紅外顯微鏡,是同類解決方案中最靈活、用途最廣的解決方案。Spotlight 150i和Spotlight200i系統:助您迎接挑戰!

Spotlight 300傅立葉變換紅外圖像系統(PerkinElmer)

Spotlight 300傅立葉變換紅外圖像系統(PerkinElmer)

  • 品牌: 珀金埃爾默
  • 型號: Spotlight 300
  • 產地:美國
  • 供應商:美國perkinelmer有限公司

    儀器簡介:全新的SpectrumSpotlight300傅立葉變換紅外圖象系統,這個令人興奮的新系統能迅速地測試一個樣品表面的特定區域的紅外光譜,獲得被稱為紅外圖象的化學成分信息,完整地補充其他圖象技術,提高實驗室的能力并且幫助他們迅速地解決問題,獨特先進的檢測器技術。使用標準快速傅立葉變換紅外光譜儀,無須步進掃描。高靈敏度和寬波長范圍。使用簡便,兼容紅外顯微鏡。

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