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日立儀器(上海)有限公司
主營產品:熱分析儀器,X射線熒光分析儀(XRF)
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日立 FT150系列 熒光X射線鍍層膜厚測量儀
  • 品牌: 日本日立
  • 型號: FT150 FT150h FT150L
  • 產地:日本
  • 概要:使用新開發的X射線聚光用多毛細管的產品陣容誕生了。另外,以X射線檢測結構為中心,對各類元件進行最佳優化,從而大幅提高了檢測靈敏度,在不損失檢測精度的前提下實現了的高處理能力。并且,對設備進行了重...

納米尺度3D光學干涉測量系統 VS1800
  • 品牌: 日本日立
  • 型號: VS1800
  • 產地:日本
  • 隨著材料不斷趨向平坦化、薄膜化及結構的微細化,人們開始要求比傳統的普通SPM(掃描探針顯微鏡)、觸針式粗糙度測量儀及激光顯微鏡等產品更高的測量精度。相比較利用光干涉原理的白光干涉掃描顯微鏡,納米尺度3...

高性能X射線熒光鍍層厚度測試儀 FT150系列
  • 品牌: 日本日立
  • 型號: FT150
  • 產地:日本
  • FT150利用多毛細管所產生的照射直徑為30 μm的高強度X射線光束,最適于導線架、微小連接器、柔性電路板等微小零件及超薄鍍層的高精度分析評價。 FT150系列X射線熒光鍍層厚度測量儀使用了最新...

X射線異物分析裝置 EA8000
  • 品牌: 日本日立
  • 型號: EA8000
  • 產地:日本
  • 產品簡介EA8000是,與X射線、CT、X光照相同原理通過X射線透射圖像捕捉樣品中的金屬異物,再通過熒光X射線分析使元素清晰化的異物分析裝置。所謂的熒光X射線分析,是指通過將元素分布作為2次元圖像...

熱分析軟件EMA(Easy and Multipurpose Analysis)
  • 品牌: 日本日立
  • 型號: EMA
  • 產地:日本
  • 產品簡介全新熱分析軟件EMA標配適用不同標準規范的向導功能,以及新手也可以輕松操作的簡易模式。為滿足各類用戶的不同需求,EMA新增了一系列功能。對于不熟悉熱分析操作的用戶來說,使用起來非常簡便,對...

熱電離質譜儀(鄰苯二甲酸酯檢查用) HM1000A
  • 品牌: 日本日立
  • 型號: HM1000A
  • 產地:日本
  • 可以在生產現場,簡單迅速地篩選檢查鄰苯二甲酸酯類物質的專用機。其操作性優異,處理極具效率,可以在8小時內連續測量50個樣品。

日立 DMA7100 動態機械分析儀
  • 品牌: 日本日立
  • 型號: DMA7100
  • 產地:日本
  • 概要:DMA動態熱機械分析儀是用來測量試樣在周期交變應力作用下,動態力學性能與溫度、時間、頻率等函數關系的技術,可以獲得與材料的結構、分子運動、加工與應用有關的特征參數。 EXSTAR DMS6100...

日立 TMA7000 熱機械分析儀
  • 品牌: 日本日立
  • 型號: EXSTARTMA/SS6000系列
  • 產地:日本
  • 儀器簡介:TMA是在程序控制溫度和非振動載荷作用下,測量試樣的形變與溫度(時間)的關系。通過TMA的探針,可以施加壓縮、彎曲和拉伸等載荷。EXSTAR系列TMA不僅可以測量樣品的膨脹收縮,還可以測量樣...

日立FT9400系列X射線熒光鍍層厚度測量儀
  • 品牌: 日本日立
  • 型號: FT9400 FT9450 FT9455
  • 產地:日本
  • 儀器簡介:FT9000系列里最高的機型就是FT9455。搭載著75W高性能X射線管和雙向分離工檢測器(半導體檢測器+比例計數管),符合“薄膜”、“合金膜”、“極微小部分測定”等鍍膜厚度測定要求的高性能...

日立 FT9500系列 X射線熒光鍍層厚度測量儀
  • 品牌: 日本日立
  • 型號: FT9500 FT9550 FT9500L
  • 產地:日本
  • 儀器簡介:X射線發生系統為X射線聚焦光學系統(聚焦導管)與X射線源相結合,并且可以照射出實際照射直徑為0.1mmΦ以下高強度的X射線束。為此,可以對以往X射線熒光鍍層厚度測量儀由于照射強度不足而無法得...

日立 FT9300系列 X射線熒光鍍層厚度測量儀
  • 品牌: 日本日立
  • 型號: FT9300系列
  • 產地:日本
  • 概要:高速X射線管球的搭載,實現了高精度的測定。而且配合極微小準直器和光學變焦鏡頭可以實現極微小部分的測定。更可以對有高低平面差異的樣品進行測定。技術參數:可測量元素:原子序數22(Ti)~83(Bi...

日立 EA1200VX 能量色散型X射線熒光儀
  • 品牌: 日本日立
  • 型號: EA1200VX
  • 產地:日本
  • 儀器簡介:「EA1200VX」沿用了最新精工電子納米科技有限公司自行開發的高計數率(能檢測大量X射線的能力)檢測器「Vortex」,具有更高的靈敏度和分辨率。適用于RoHS、ELV、無鹵、EN71等環...

日立 FT9200系列 X射線熒光鍍層厚度測量儀
  • 品牌: 日本日立
  • 型號: FT9200系列
  • 產地:日本
  • 儀器簡介:是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計。是一個本公司膜厚儀FT系列的標準機型。有適用線路板用的FT9250、有適用大型線路板用的FT9255、可以對應廣泛的應用程序。技術參數:可測量元素:原子...

EA6000VX能量色散型X射線熒光分析儀
  • 品牌: 日本日立
  • 型號: EA6000VX
  • 產地:日本
  • 儀器簡介:通過位置精度較高的自動樣品臺和高靈敏度性能,可以對微小異物進行快速掃描和檢查,也可對電子基板等復合材料制品的微小特定部位實施定點精確測量。型號名稱:EA6000VXX射線源:50kV、1mA...

日立 FT110A X射線熒光鍍層厚度測量儀
  • 品牌: 日本日立
  • 型號: FT110A
  • 產地:日本
  • 概要:自1978年以來取得傲人銷量的X射線熒光鍍層厚度測量儀的第八代產品FT110A。在測量精度、操作性能、軟件上有新的優化。通過自動定位功能,只需把樣品放在樣品臺上,便能在數秒內自動對準觀察樣品焦點...

日立 DSC7000Series 差示掃描熱量計
  • 品牌: 日本日立
  • 型號: DSC7000Series
  • 產地:日本
  • 概要:DSC7000X優越的靈敏度和重現性提升了數據的可靠性,同時豐富多彩的擴展性使其更為出色。以一般聚合物的DSC測量為基礎,可應對多種不同應用,例如可以對難以經手的樣品進行微量測量,省力自動化,樣...

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